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描述：x射線膜厚測(cè)試儀THICK8000是一款快速、無(wú)損、精確的電鍍城厚度測(cè)試儀器，主要用在鍍鋅（Zn）、鍍鎳（Ni）、鍍錫（Sn）、鍍金（Au）、鍍銀（Ag）等金屬鍍層厚度測(cè)測(cè)試，*薄可測(cè)試0.005μm，為企業(yè)嚴(yán)格控制產(chǎn)品質(zhì)量，防止鍍的過(guò)厚（增加產(chǎn)品成本）或者過(guò)薄（產(chǎn)品不合格）帶來(lái)的損失.
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間
2025-05-18訪問(wèn)量
1015| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
x射線膜厚測(cè)試儀X射線激發(fā)源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測(cè)器及分辨率：SDD探測(cè)器，分辨率140±5eV
定位精度：0.001mm
測(cè)量時(shí)間：10s及以上
樣品平臺(tái)移動(dòng)范圍：120mm×120mm
樣品腔升降平臺(tái)移動(dòng)高度：0～150mm
主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件：
(1)微焦斑X光管
(2)大面積SDD電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器
(3)數(shù)字多道分析器
(4)超高精度三維移動(dòng)平臺(tái)
(5)全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
(6)高低壓電源
(7)激光定位裝置及圖像自動(dòng)對(duì)焦技術(shù)
(8)開(kāi)放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩
(9)電動(dòng)調(diào)節(jié)準(zhǔn)直器
(10)防撞激光保護(hù)器
x射線膜厚測(cè)試儀資料：儀器使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。
標(biāo)準(zhǔn)附件
準(zhǔn)直孔：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種（已內(nèi)置于儀器中）
產(chǎn)品分類
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